J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置

絕緣抵抗測定器

型號：ECM-100

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時間的測試（1～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ION MIGRATION TESTING） 適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 

特點(diǎn)：

①簡單便利

由于采用了高側(cè)計(jì)測，削減了對樣品的焊接工時。

通過簡單操作的軟件，可以進(jìn)行直觀的操作。

在記錄和報告過程中配備了方便的報告功能。

試驗(yàn)中測試儀可以單獨(dú)工作，可以切斷電腦的電源。

②高機(jī)能

通過對每個頻道單獨(dú)配備的外加測量電路，實(shí)現(xiàn)16ms的測量間隔。

泄漏接觸現(xiàn)象的檢測能力高，可靠性試驗(yàn)的“質(zhì)量"提高。

一臺電腦可增設(shè)多達(dá)400個通道

每個通道有不同的測試電壓。

③高信賴性

通過自我診斷功能防止異常測量。

易于拆卸的單元結(jié)構(gòu)，易于維護(hù)。

用途

印刷電路板、焊錫、樹脂、導(dǎo)電性粘合劑、絕緣材料等的電化學(xué)遷移(離子遷移)評價。